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专利名称一种统计过程的控制方法和系统
申请日2018-10-29
申请号/专利号CN201811273805.8
专利权人枘熠集成电路(上海)有限公司
申请人枘熠集成电路(上海)有限公司
发明人/设计人不公告发明人
公告日2018-12-21
公告号CN109063218A
法律状态审中
专利类型发明
行业分类集成电路

摘要

本发明提供一种统计过程的控制方法和系统,适用于对连续样本数据进行早期异常监测,首先收集样本数据,对收集的样本数据正态化处理,当样本量大于2且未达到30时,统计过程的控制图为双重控制限,计算所述样本数据的双控制限,根据计算所得的双控制限,判断接下来收集的样本数据是受控数据还是失控数据;若新收集的连续样本数据为受控数据,则根据双控制限公式计算得到新的受控数据的双控制限;若新收集的连续样本数据为失控数据,需要及时采取措施进行改善;当样本量到达30个时,统计过程的控制图为单控制限。使用该方法和系统,只需要收集2个数据点就可以开始实施控制,以节省生产过程中收集连续样本数据所需耗费的成本和时间。
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