本发明属于集成电路测试技术领域，具体涉及一种基于模块化激励模型的集成电路测试激励生成系统。本发明应用时间轴配置方法产生与测试用例对应的任务点，通过配置任务点，形成包含激励模型的激励文件，实现激励信号的生成。并使任务点对应测试用例，实现对测试用例的可视化管理和批量执行。不仅解决了现有方案中人工成本大，调试复杂的矛盾，而且配置方式简单，适用于ASIC、SOC、FPGA等集成电路的仿真测试。