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专利名称基于标准集成电路工艺低噪声单光子探测芯片及系统
申请日2018-10-11
申请号/专利号CN201811182461.X
专利权人桂林电子科技大学
申请人桂林电子科技大学
发明人/设计人邓仕杰;滕传新;刘厚权;张文涛;苑立波
公告日2019-01-22
公告号CN109253807A
法律状态审中
专利类型发明
行业分类集成电路

摘要

本发明提供的是一种基于标准集成电路工艺低噪声单光子探测芯片及系统。其特征是:低噪声单光子探测系统由光源1、偏压电路2、单光子探测芯片3、信号处理系统4组成,其中单光子探测芯片3由正常模式运行的单光子雪崩二极管31、暗环境下运行的单光子雪崩二极管32以及雪崩事件检测电路阵列33组成。本发明可用于极微弱光的测量,可广泛用于激光雷达,DNA测序,量子密匙分配,以及医学成像等领域。
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