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专利名称半导体元件及其制作方法
申请日2018-10-09
申请号/专利号CN201811172252.7
专利权人联华电子股份有限公司;福建省晋华集成电路有限公司
申请人联华电子股份有限公司;福建省晋华集成电路有限公司
发明人/设计人冯立伟;洪裕祥;魏铭德
公告日2020-01-21
公告号CN110718532A
法律状态审中
专利类型发明
行业分类集成电路

摘要

本发明公开一种半导体元件及其制作方法,其中该半导体元件包含一基底,至少一位线位于该基底上,其中该位线顶端包含有一圆角掩模(roundinghardmask),且该圆角掩模定义有一顶部以及一底部,以及至少一存储点接触结构(storagenodecontactplug)位于该位线旁,该存储点接触结构至少包含有一导电层,其中从剖视图来看,该存储点接触结构定义有一宽度X1,其中该宽度X1所在位置与该圆角掩模的该顶部在一水平方向对齐,而该存储点接触结构定义有另一宽度X2,其中该宽度X2所在位置与该圆角掩模的该底部在该水平方向切齐,其中X1大于或等于X2。
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