本发明属于集成电路技术领域，具体为一种通用芯片测试系统。本发系统中，待测元器件由分为2部分：主要文件和次要文件；此外，还包软件运行部分，主要包括测试图形生成程序模块、测试结果分析程序模块；各个测试文件的语法构成，除了通用文件格式如UCF、VCD、RBT，其他测试文件均以XML格式编写，方便程序进行检索和信息提取。用户在准备好必要的测试文件后，视测试激励的长短，可以在一至两分钟内生成测试图形的二进制文件并下板验证，进一步提升了测试效率。本发明中设计的测试图形生成和结果转换程序可以根据测试模型的变化与需求对程序进行调整，保持接口不变，不需要对软件的其他部分进行改动，使用方便。