本发明涉及模拟集成电路领域，为提出使用软件Labview采用串口通信等方式开展相关单元模块的设计，完成全自动的ESD测试系统，提高ESD测试的精度与可信度并减少测试时间。为此，本发明采用的技术方案是，基于Labview的芯片级ESD自动化测试方法，采用静电释放ESD测试板模拟实际的系统环境，芯片引脚接上拉电阻或下拉电阻模拟实际的负载情况，以晶体振荡器作为时钟源进行测试，测试引脚类型包括电源、通用输入输出GPIO引脚两种，在测试过程中需要在每一个选定引脚处施加接触放电脉冲，施加的接触放电脉冲电压从1kV直到8kV。本发明主要应用于集成电路测试场合。