本实用新型公开了一种集成电路测试载板，包括测试仪本体，所述测试仪本体的表面设有凹槽，所述凹槽的内部两侧均设有滑槽，所述滑槽的内部滑动安装有滑杆，所述滑杆的另一端固定连接有活动板，所述活动板的两侧均通过螺纹连接有紧固螺栓，所述紧固螺栓的表面通过螺纹连接有测试载板，所述测试载板的两侧均设有螺纹槽，所述紧固螺栓的一端通过螺纹连接螺纹槽内。该集成电路测试载板通过将测试载板拉出凹槽的内部，能够将集成电路放置在测试载板的表面进行测试，能够避免出现集成电路沾染污垢导致无法使用的情况，并且通过清洁辊能够对测试载板的表面进行清理，使得测试载板的表面保持洁净。