本公开涉及测试技术领域，尤其涉及一种测试装置。所述装置包括：测试基板，用于放置集成电路并对所述集成电路进行测试，以获取所述集成电路的测试数据；解析镜头，与所述测试基板相对设置，用于扫描所述集成电路的封装体上的识别码，以使处理器解析所述识别码并根据解析结果与所述测试数据判断所述识别码的正确性。本公开减少了扫描时间，提高了扫描效率，从而提高了识别码的验证效率，同时节省了时间成本和人力成本。