本实用新型涉及J750EX‑HD集成电路测试系统通用适配器，包括测试适配板和测试负载卡，其特征是测试适配板包括基板、被测器件座、拨码开关阵列、继电器阵列、测试负载卡连接器和用于连接J750EX‑HD测试系统的插座，拨码开关阵列的两端分别与被测器件座和GND信号及DPS源连接，继电器阵列的两端分别与被测器件座和负载卡连接器连接；测试负载卡包括适配板连接器、测试通道焊接区、GND焊接区和DPS焊接区，测试负载卡通过适配板连接器与负载卡连接器的配合与测试适配板连接。本实用新型通用性强、增加外围元件简单方便、使用灵活、操作容易。