本发明公开一种面向扫描设计结构的低功耗LFSR重播种测试压缩方法，解决了传统LFSR重播种技术带来的过高的测试功耗等问题。基于测试立方块的优化编码算法能够灵活结合任意LFSR重播种方案，可应用于工业级超大规模集成电路和片上系统的内建自测试及其功能验证。基本思路如下：LFSR重播种过程对测试立方中的不确定位进行随机填充，由此引发过高的开关切换率和测试功耗。本发明通过优化编码提高测试立方中相邻位之间的逻辑一致性，有效降低测试功耗；通过减少测试立方中的确定位数目和状态方程个数，降低种子向量求解难度，有效地提高测试数据压缩率，缓解测试存储资源的挑战。