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专利名称一种Lora射频模组参数的测试系统
申请日2018-09-19
申请号/专利号CN201811094977.9
专利权人中科芯集成电路股份有限公司
申请人中科芯集成电路股份有限公司
发明人/设计人戚道才;潘守彬;沈伟;王伟男;朱信臣;赵志浩
公告日2019-01-11
公告号CN109194414A
法律状态审中
专利类型发明
行业分类集成电路

摘要

本发明公开一种Lora射频模组参数的测试系统,属于Lora测试技术领域。所述Lora射频模组参数的测试系统包括电流检测模块、射频检测模块和小系统电路。电流检测模块用于检测Lora射频模组的睡眠电流、最大发射电流、接收电流和待机电流;射频检测模块用于检测Lora射频模组的TX发射功率和RX的接收灵敏度;小系统电路用于对电流进行采样和数据处理,以及控制整个测试系统的运行。通过借助接收灵敏度与功率之间的离散关系表,间接测试Lora射频模组的参数,摆脱借助屏蔽箱和频谱仪的传统射频检测方式;采用高端采样电路和运放电路进行电流检测,为便于工厂化,资产跟踪,增加了上位机功能,可对测试数量的记录,不良率的记录,每个模块的测试报告,便于后续产品跟踪。
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