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专利名称一种真空卡盘以及键合设备
申请日2018-09-18
申请号/专利号CN201811089622.0
专利权人武汉新芯集成电路制造有限公司
申请人武汉新芯集成电路制造有限公司
发明人/设计人邹文;周云鹏
公告日2018-12-25
公告号CN109087883A
法律状态审中
专利类型发明
行业分类集成电路

摘要

本发明提供一种真空卡盘以及键合设备,所述真空卡盘,用于晶圆的键合工艺,包括第一子卡盘和第二子卡盘,第一子卡盘包括第一吸附腔室,第二子卡盘包括第二吸附腔室,第二吸附腔室和第一吸附腔室均为圆盘状结构,第二吸附腔室朝向第一吸附腔室,第一吸附腔室的直径是第一晶圆的直径的0.7~0.95倍。本发明通过缩小第一吸附腔室的直径,以扩大第一晶圆边缘不被真空吸附的区域,由此可以减小第一子卡盘对第一晶圆的吸附力,进而减小键合晶圆的键合扭曲度,特别是晶圆边缘的扭曲度,提高后续光刻制程中的对准精度,改善后续制程键合晶圆的均一性,从而提高产品的性能。
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