本发明公开了一种集成电路测试数据融合分析方法，是从测试机台获取测试信息进行自动分析，为实现待测产品的良率判断分析评估、预测及提升的信息处理过程；本发明提供的集成电路测试数据融合分析方法，解决集成电路电路测试过程中避免单独信息的缺点、发挥全局信息的优势、利用多源异构数据之间互补性的自动化信息处理技术，对多源信息进行采集、过滤、互联、关联(相关)、态势描述、态势(或威胁)评估、目标识别和态势预测等，是一个从多级别、多方面、多维度对传感器数据进行处理的过程，其目的在于较低层次获得状态的精确信息与评估，实现测试海量信息分析结果更加可靠和准确。