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专利名称低电容瞬变电压抑制器
申请日2018-09-14
申请号/专利号CN201811092680.9
专利权人万国半导体(开曼)股份有限公司
申请人万国半导体(开曼)股份有限公司
发明人/设计人雪克·玛力卡勒强斯瓦密
公告日2019-04-26
公告号CN109686733A
法律状态审中
专利类型发明
行业分类集成电路

摘要

本发明提出一种瞬变电压抑制器器件,包括一个P‑N结二极管和一个可控硅整流器,集成在一个半导体层的横向器件结构中。横向器件结构包括半导体区域的多个条形结构,沿半导体层主表面上的第一方向水平排布,限定了条形结构之间的电流传导区。可控硅整流器和P‑N结二极管的电流通路形成在每个电流传导区中,但是可控硅整流器的电流通路在第二方向上的每个电流传导区中,主要与P‑N结二极管的电流通路隔开,第二方向与半导体层主表面上的第一方向正交。本发明所述的瞬变电压抑制器器件实现了受保护节点处的低电容。瞬变电压抑制器器件适用于保护集成电路的数据引脚,尤其适用于当数据引脚用于高速器件应用时。
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