本发明公开了一种CMOS图像传感器的缺陷检测方法，包括：利用一含有CMOS图像传感器的工业相机采集一张灰卡图像；对灰卡图像进行预处理，获得灰度图；对灰度图中的各像素值进行数据移位处理，获得低位图像；对低位图像中的各像素值进行平均，获得图像均值；将低位图像中的各像素值分别与图像均值进行绝对值计算，获得差异图像；对差异图像中的各像素值进行标准差计算；当获得的标准差大于预设的标准差阈值时，判断CMOS图像传感器芯片存在低位图像底噪超标的缺陷。本发明能很好地解决对高精度图像传感器的测试需求。