本发明提出了一种带内建自测试的电源开关电路，在设计电路中植入一种提供自我测试功能的电路，在低功耗系统上实现电源开关内部自检，在出现晶体管开路或者短路时给予提示，以免产生性能损失。本电路可以降低器件测试对自动测试设备（ATE）的依赖程度，首先，在测试电源开关时用了完整的电源测试信号和更少的测试周期；其次，在电源管理操作上，当开启休眠的模块或者关闭正在工作的模块时，部分内建自测试电路可以被复用，电源开关一个接着一个被激活/休眠，在不增加电路和功耗的情况下，降低电源噪声的峰值，减小对芯片工作的影响。