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专利名称半导体结构及其制备方法
申请日2018-08-29
申请号/专利号CN201810997049.7
专利权人中国科学院上海微系统与信息技术研究所
申请人中国科学院上海微系统与信息技术研究所
发明人/设计人张伟博;罗乐;徐高卫
公告日2019-01-15
公告号CN109216162A
法律状态审中
专利类型发明
行业分类集成电路

摘要

本发明提供一种半导体结构及其制备方法,半导体结构的制备方法包括如下步骤:1)提供一基底;2)于基底的表面形成具有预设深度的凹槽;3)于凹槽内形成介质层,介质层填满凹槽,且介质层裸露的表面与基底形成有所述凹槽的表面相平齐。本发明通过先在基底的表面形成凹槽,然后再在凹槽内形成介质层,位于凹槽内的介质层可以间接提供一定的介质层厚度,在需要在基底表面制作无源器件时,可以直接将无源器件制作在凹槽的上方,从而可以减少介质层的涂覆工艺次数,尽可能避免介质层开裂、剥落等问题;同时,本发明的半导体结构的制备方法不会占用基底正面的面积,不会影响正面功率器件的性能,与集成电路后道封装工艺相兼容。
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