本发明涉及一种水性体系用有机硅表面性能控制助剂富集的测试方法，按比例将有机硅表面性能控制助剂添加在水性树脂中并均匀混合，混合物置于基材上干燥成膜，并剥离涂膜；对涂膜的两侧表面进行衰减全反射傅里叶红外光谱扫描，与空气接触的一侧界面Si‑C吸收峰面积记作Sa，参比峰C=O吸收峰面积记作Sr1，与基材接触的一侧界面Si‑C吸收峰面积记作Sb，参比峰C=O吸收峰面积记作Sr2；计算有机硅在涂膜中的富集率m，富集率为。本发明能够有效测定水性体系用有机硅表面性能控制助剂在不同情况下的富集率，并预测或判定在不同使用条件下的表现效果。