本发明是一种基于仿真的容错电路故障影响分析方法，其步骤如下：1.外围正常电路建模。2.元器件故障模式集总结。3.外围模拟电路故障建模。4.外围模拟电路故障注入。5.芯片接口故障模式和软件错误类型总结。6.对数字芯片输入故障进行逻辑描述。7.观察和分析电路模块的故障影响。它能够有效缩短系统设计周期、节省设计费用，大大提高了系统的可靠性，它利用仿真故障注入的方法，能够更方便地实现对容错系统故障模式和故障影响的合理判定。