本发明公开一种X射线应力测定仪检测装置的检测方法，通过测角仪同倾装置，控制射线源旋转θs角、探测器旋转θd角进行步进扫描，实现同倾法对材料及材料制品的残余应力测量；通过测角仪侧倾装置，控制射线源旋转θs角、探测器旋转θd角进行步进扫描，实现侧倾法对材料及材料制品的残余应力测量；固定射线源旋转角θs、探测器旋转角θd在晶面{H,K,L}的衍射角，旋转测角仪侧倾装置，使测角仪等分角度旋转，转台旋转总成在360度内等距采集数据，完成完整极图测量。本发明为新材料研究及关键零部件的可靠性提供最可靠的检测手段，可实现对多领域的材料结构、不规则形状的零部件进行残余应力分析、残余奥氏体含量及织构精确测量。