本发明公开了一种基于偏振偏转干涉法的光器件测量方法，利用干涉结构使通过待测光器件的输入光信号包含两个正交偏振态，通过对待测光器件沿着两个不同偏振方向的响应进行处理，得到待测光器件参数；所述输入光信号是利用光频梳调制器将微波扫频信号调制到单一波长的光载波上，得到的梳齿间隔固定的扫频光频梳信号；对于通过待测光器件的两个不同偏振方向的扫频光频梳信号，分别利用波分复用器并行提取出光频梳的每根梳齿，得到每个梳齿所对应频段的待测光器件参数，进而得到扫频光频梳所对应的整个频段内的待测光器件参数。本发明还公开了一种基于偏振偏转干涉法的光器件测量装置。相比现有技术，本发明具有更高的测量速度和测量分辨率。