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专利名称光器件测量装置、测量方法
申请日2012-12-20
申请号/专利号CN201210557111.3
专利权人南京航空航天大学
申请人南京航空航天大学
发明人/设计人潘时龙;唐震宙;薛敏;朱丹;郭荣辉;顾晓文
公告日2016-01-06
公告号CN103067075B
法律状态有效
专利类型发明
行业分类

摘要

本发明公开了一种光单边带调制方法。本发明方法将光载波分为两路,对于其中一路,先进行抑制偶阶边带的光强度调制,然后从得到的光强度调制信号中滤出一个一阶边带信号,最后将滤出的一阶边带信号与另一路光载波合并,得到最终的光单边带调制信号。本发明还公开了一种采用上述调制方法的光单边带调制器、光器件测量装置及方法。本发明能够有效消除单边带调制信号中的二阶边带的影响,从而提高系统的动态范围;基于该调制方法的光器件测量装置和方法,可在保证测量精度的前提下,解决对待测光器件的选择性问题和由单边带信号中二阶边带造成的测量误差问题。
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