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专利名称目标雷达散射截面测量与定标处理的方法
申请日2012-11-23
申请号/专利号CN201210484279.6
专利权人北京航空航天大学
申请人北京航空航天大学
发明人/设计人许小剑
公告日2014-08-27
公告号CN102998665B
法律状态有效
专利类型发明
行业分类

摘要

本发明提供一种目标雷达散射截面测量与定标处理的方法,包括:在t1时刻,测量获取安装定标体支架后的测试场背景回波SBC(f,t1),SBC(f,t)=HC(f,t1).BC(f,t1);在t2时刻,测量获取安装定标体后的定标体回波SC(f,t2);在t2时刻,测量获取安装定标体后的定标体回波SC(f,t2);在t3时刻,测量获取安装目标支架后的测试场背景回波SBT(f,t3),SBT(f,t3)=HT(f,t3).BT(f,t3);在t4时刻,测量获取安装目标后的目标回波ST(f,t4);采用公式(1)进行定标处理。本发明可以解决外场测试中诸多时变因素导致的测量定标误差大的问题。
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