本发明公开了一种可靠性预计算法，包括以下步骤：分别计算器件单粒子效应SEE、总剂量效应TID和位移损伤效应DD引起的失效率λSEE、λTID和λDD；根据公式λspace=λTID+λDD+λSEE计算空间辐射环境引起的失效率λspace；根据公式λ=λNOspace+λspace计算器件的总失效率λ，其中λNOspace是非空间辐射环境引起的失效率。本发明考虑了辐射应力响应，可用于航空航天辐射敏感元器件的可靠性预计；与基于常数失效率假设的可靠性预计方法相比，本发明算法的预计结果更加准确。