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专利名称一种成像光谱仪辐射定标精度对数据质量影响分析方法
申请日2012-09-28
申请号/专利号CN201210369941.3
专利权人北京航空航天大学
申请人北京航空航天大学
发明人/设计人贾国瑞;雷浩;赵慧洁;张颖
公告日2014-12-31
公告号CN102879094B
法律状态有效
专利类型发明
行业分类

摘要

一种成像光谱仪辐射定标精度对数据质量影响分析方法,它有六大步骤。该方法通过分析实验室辐射定标过程中影响入瞳辐亮度的不确定度来源及各项影响量的不确定度大小,计算了成像光谱仪定标过程入瞳辐亮度的不确定度,并通过中心极限定理得出其概率分布,进而通过二维随机变量和函数概率分布的计算得到了定标系数不确定度大小及其概率分布形式,最终得到了复原辐亮度的不确定度及概率分布。本发明可用于分析辐射定标精度对于成像光谱遥感数据质量的影响,从而有助于提高遥感数据仿真的精度,以及遥感探测过程中更有效的对遥感数据质量进行评价。
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