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专利名称一种低温等离子体辅助铝诱导多晶碳化硅薄膜的制备方法
申请日2012-09-28
申请号/专利号CN201210367504.8
专利权人南京航空航天大学
申请人南京航空航天大学
发明人/设计人吴天如;沈鸿烈;方茹;张磊
公告日2015-01-14
公告号CN102891073B
法律状态有效
专利类型发明
行业分类

摘要

本发明公开一种低温等离子体辅助铝诱导多晶碳化硅薄膜的制备方法。其方法步骤如下:(1)采用热丝CVD方法在衬底上沉积纳米晶碳化硅或非晶碳化硅薄膜;(2)采用干氧氧化的方法形成一层二氧化硅薄层;(3)采用磁控溅射或真空热蒸发方法继续沉积铝薄膜;(4)将此叠层结构在等离子体辅助下采用还原气体与惰性气体混合气氛退火;(5)用Al腐蚀液腐蚀去除表面残留的铝,最终得到晶粒大小达到3-5微米左右,表面光滑平整的多晶SiC薄膜。本发明是一种在廉价衬底上低温制备大晶粒碳化硅的方法。相比传统多晶碳化硅制备方法,其制造成本大大降低,在高温、高频、大功率、光电子及抗辐射电子器件等方面具有巨大的应用潜力。
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