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专利名称一种数控系统可靠性鉴定试验条件与方案的评估确定方法
申请日2012-09-24
申请号/专利号CN201210358649.1
专利权人北京航空航天大学
申请人北京航空航天大学
发明人/设计人姚金勇;贾宇;张坤
公告日2014-09-10
公告号CN102866669B
法律状态有效
专利类型发明
行业分类

摘要

本发明公开了一种数控系统可靠性鉴定试验条件与方案的评估确定方法,该方法是基于数控系统的使用特点以及可靠性鉴定试验的相关理论,从温度、湿度、振动等环境条件和电应力、功能模式、输入信号、负载条件等方面提出了用于数控系统可靠性鉴定试验的条件确定流程和方法,同时可以在数控系统的实际可靠性鉴定试验中得以实施,试验的过程由试验剖面确定。它有四大步骤:步骤一:环境条件的确定;步骤二:工作条件的确定;步骤三:试验方案第一部分的确定;步骤四:试验方案第二部分的确定。本方法可以快速简单地给出针对数控系统可靠性试验的条件和方案,便于试验迅速展开,在数控系统监测及评估技术领域里具有实用价值。
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