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专利名称一种多源干扰对TDICCD成像质量影响分析测试系统
申请日2012-06-26
申请号/专利号CN201210214493.X
专利权人北京通航空天信息技术研究院
申请人北京航空航天大学
发明人/设计人杨照华;王浩;刘鸣鹤
公告日2015-05-20
公告号CN102865883B
法律状态有效
专利类型发明
行业分类

摘要

一种多源干扰对TDICCD成像质量影响分析测试系统,可分为误差源干扰及其等效子系统、TDICCD成像子系统及光学靶标、姿态误差及其干扰测量子系统、信号采集及处理子系统和无线通讯及地面综合处理子系统。误差源干扰及其等效子系统用于模拟卫星在空间环境中由于太阳帆板\控制力矩陀螺系统(CMGs)和卫星平台产生的干扰。测量子系统用于测量卫星平台姿态角和振动线速度;信号采集及处理子系统对各敏感器信息进行采集,并进行相应的处理和分析计算。本发明实现了在地面模拟空间环境中卫星运动误差对TDICCD成像质量的主要干扰,结合卫星姿态动力学测试分析的气浮转台实现了多源干扰对TDICCD成像质量影响分析。
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