本发明公开一种用于光学电压互感器动态性能研究的测试方法及装置。本发明利用含有FPGA的板卡NI7813R取代原有光学电压互感器闭环检测电路中FPGA，并且原闭环检测电路的AD、DA转换器与板卡NI7813R的FPGA之间设置了隔离装置连接通讯，板卡NI7813R上FPGA通过PCI总线连接计算机；所述的测试装置具有高速数据采集、存储和处理的能力，可以在计算机上实现闭环状态变量的显示和存储，实时监测系统闭环工作状态；无需任何外加设备，利用自身硬件提供频率可调的正弦激励信号和阶跃输入信号，实现光学电压互感系统的频率特性和闭环阶跃响应性能测试；并可以测量光学电压互感器内部功能模块的频率特性，建立模块的高频动态模型，为光学电压互感器动态性能研究奠定基础。