一种基于贝叶斯理论的电子产品寿命模型概率化方法，它有四大步骤：步骤一：主要失效机理及物理模型的确定；步骤二：确定主要失效机理中各种分散性的来源及表征方法；步骤三：确定失效机理服从的寿命分布；步骤四：基于贝叶斯理论更新参数分布，并结合失效物理模型，利用蒙特卡洛抽样的方法获得概率化寿命模型的数值求解。本发明是一种基于应力损伤模型的高可靠长寿命电子产品失效概率计算方法，它通过分析导致电子产品故障的各种材料属性、尺寸、应力等因素的分散性及描述方法，在现有失效物理模型的基础上考虑加入这些分散性因素，实现失效物理模型的概率化，为更准确的描述故障，预测产品的贮存寿命提供一种新途径。