本发明公开了一种基于光单边带调制的光器件测量方法。本发明用两个并联的可调谐窄线宽激光器替换原测量装置中单个输出波长固定的窄线宽激光器，并利用控制两激光器交替工作的方法将光单边带测量技术的测量范围从原来的0.4nm拓展到40nm以上，从而实现了光器件在某一波段内任意波长响应的测试。本发明还公开了一种基于光单边带调制的光器件测量装置以及该装置的使用方法。相比现有的光单边带测量技术，本发明极大地拓展了测量装置的测量范围。