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专利名称一种用于电学层析成像系统的递推解调方法
申请日2012-01-18
申请号/专利号CN201210016831.9
专利权人北京航空航天大学
申请人北京航空航天大学
发明人/设计人徐立军;周海力;曹章;曾轶
公告日2014-01-15
公告号CN102565541B
法律状态有效
专利类型发明
行业分类

摘要

本发明涉及一种用于电学层析成像系统的递推解调方法,其特征在于:其包括下列步骤:(1)根据系统的激励频率f和采样频率fs建立初始方程和递推方程;(2)以激励信号零相位时刻为起始时刻,根据测量信号在紧邻起始时刻之后的2个采样点数据按照步骤(1)中的初始方程计算出数据矩阵B和状态矩阵P的初始值;(3)将其初始值及新增采样点数据代入步骤(1)中的递推方程,以更新B和P;(4)判断解调结果是否满足系统精度要求,若不满足则返回步骤(3),若满足则结束解调,并输出测量信号的幅值和相位数据。上述递推解调方法最少只需两个采样点数据,且增加采样点数可提高解调精度和抗噪声能力。
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