本发明涉及图像缺陷识别领域，特别涉及一种应用于手机壳体中框表面颗粒缺陷识别所使用的检测方法。一种手机壳体中框表面颗粒缺陷的检测装置，其中，包括手机壳体传送抓取部分和缺陷采集识别部分，其中手机壳体传送抓取部分用于手机壳体的抓取、移动及固定，缺陷采集识别部分用于对固定的手机壳体采集信息并识别缺陷。本发明的效果是：a.增强形变缺陷的特征，使得颗粒缺陷显示的更明显。b.增强形变缺陷的清晰度，使得直径小于0.1mm的颗粒缺陷更加容易被发现。c.增强在高亮，高反光的弧面上缺陷的识别度，使得在特殊角度和特殊位置的无法被人眼看到的颗粒缺陷全部显示出来。d.降低灰尘和脏污的特征，减少其对颗粒缺陷识别的影响，使得缺陷识别率大大增加。