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| 专利名称 | 关键检验特性缺陷率统计方法 |
| 申请日 | 2019-11-14 |
| 申请号/专利号 | CN201911113589.5 |
| 专利权人 | 北京京航计算通讯研究所 |
| 申请人 | 北京京航计算通讯研究所 |
| 发明人/设计人 | 吴国材;陈真;杜贝娜;郭小星;付高生;李大立;梅晓冬;马静;史旭升 |
| 公告日 | 2020-02-18 |
| 公告号 | CN110807605A |
| 法律状态 | 审中 |
| 专利类型 | 发明 |
| 行业分类 | 信息技术 |
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