本发明公开了一种针对SRAM型FPGA的随机翻转故障注入方法，针对采用SRAM型FPGA实现的电路，利用其动态重配置的优点，通过翻转比特位即可人为的在FPGA中引入与单粒子翻转同等效力的故障，一方面对设计电路配置存储单元执行多位随机故障注入，替代辐射模拟，从而对电路设计防护手段的有效性进行评测；另一方面通过单位随机故障注入，累积翻转直到出现功能性错误，从而得到配置存储单元的刷新周期。