本发明属于机器视觉检测技术领域，具体涉及一种基于超像素的偏光片外观缺陷分割方法，解决了背景技术中所述的技术问题。采用如下技术方案：1.载入待分割的偏光片缺陷图像；2.进行灰度化；3.对偏光片缺陷图像进行超像素分割；4.提取超像素的灰度特征；5.使用OSTU算法计算灰度阈值；6.根据最优分割阈值，对超像素进行合并，得到最终的分割结果；本发明以超像素作为后续图像处理的基本单位的分割方法，减少了计算量，降低了算法的时间复杂度，同时对偏光片缺陷图像中的背景纹理和噪声起到了抑制作用，减少了像素的冗余信息，提高了处理效率和抗噪性能，该方法能够在边界模糊的含噪偏光片缺陷图像中有理想的分割效果。