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| 专利名称 | 一种放大电路的贮存性能表征参数确定方法 |
| 申请日 | 2011-11-28 |
| 申请号/专利号 | CN201110384429.1 |
| 专利权人 | 北京航空航天大学 |
| 申请人 | 北京航空航天大学 |
| 发明人/设计人 | 赵广燕;马晓东;孙宇锋;刘玮;丁潇雪;操军 |
| 公告日 | 2013-07-24 |
| 公告号 | CN102426334B |
| 法律状态 | 有效 |
| 专利类型 | 发明 |
| 行业分类 |
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