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专利名称一种超导交流磁化率测量装置及测量方法
申请日2011-10-28
申请号/专利号CN201110335473.3
专利权人北京航空航天大学
申请人北京航空航天大学
发明人/设计人王三胜;褚向华;程远超
公告日2014-06-18
公告号CN102507725B
法律状态有效
专利类型发明
行业分类

摘要

本发明公开一种超导交流磁化率测量装置及测量方法,属于超导电子学领域。通过将被测超导材料放置初级线圈和次级线圈之间,然后一并固定在密闭真空室内,通过压缩制冷机对被测超导材料制冷,通过锁相放大器提取次级线圈感应的电压信号,同时锁相放大器为初级线圈提供交流电压激励,通过温控仪测量被测超导材料的温度,通过计算机存储锁相放大器测得的电压信号和温控仪测得的温度信号并实时显示锁相放大器测得的电压信号随温度变化的曲线。通过本发明可以对超导材料的转变温度进行无损测量,便于及时掌握测量情况,是高效、准确、可靠的测试手段,对制备超导材料性能检验有一定的实用价值。
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