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专利名称一种光学系统畸变测量方法及设备
申请日2019-12-11
申请号/专利号CN201911268111.X
专利权人中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请人中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
发明人/设计人张志宇;王凤;王若秋;薛栋林;张学军;张峰
公告日2020-03-13
公告号CN110879136A
法律状态审中
专利类型发明
行业分类机械制造

摘要

本申请公开了一种光学系统畸变测量设备,包括激光器,用于产生激光;平行光转化装置,用于将激光转换为平行光;激光分束器,用于将平行光分成多束子平行光;待测镜头;位于待测镜头的焦平面的成像元件,用于对经过待测镜头的多束子平行光成像,得到光斑点阵图像;处理器,用于根据光斑点阵图像,确定待测镜头的畸变。激光分束器将平行光转换成多束子平行光,即产生多个不同视场的光束,多个光束经过待测镜头后在成像元件上形成光斑点阵图像,进而处理器确定待测镜头的畸变,实现不同视场畸变的同时测量,无需单独获取每个不同视场上的图像分别测量,缩短测量时间,提升效率,并且降低环境的干扰。此外,本申请还提供一种具有上述优点的测量方法。
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