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专利名称 | 一种光学系统畸变测量方法及设备 |
申请日 | 2019-12-11 |
申请号/专利号 | CN201911268111.X |
专利权人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
申请人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
发明人/设计人 | 张志宇;王凤;王若秋;薛栋林;张学军;张峰 |
公告日 | 2020-03-13 |
公告号 | CN110879136A |
法律状态 | 审中 |
专利类型 | 发明 |
行业分类 | 机械制造 |
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