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专利名称一种用于全面积器件转移的制备多孔硅的装置
申请日2011-08-08
申请号/专利号CN201110225427.8
专利权人南京航空航天大学
申请人南京航空航天大学
发明人/设计人张磊;沈鸿烈
公告日2014-02-05
公告号CN102418138B
法律状态有效
专利类型发明
行业分类

摘要

本发明公开了一种用于全面积薄膜器件转移的制备多孔硅的装置,包括槽体,其特征在于:在所述的槽体上方开设有腐蚀槽,在槽体的下方开设有真空室,在所述的腐蚀槽与真空室之间开设有通孔,在所述的腐蚀槽底面设置有橡胶垫,所述的通孔位于橡胶垫的圈内,在所述的腐蚀槽内还设置有铂网阴电极;在所述的真空室内设置有金属探针电极,金属探针电极的上端穿出所述的通孔位于腐蚀槽内,在真空室内设置有抽真空气口。本发明的优点在于:结构简单,操作方便,能实现对单晶硅片正面的全面积腐蚀,从而实现外延器件整体转移的目的,并且能腐蚀多种尺寸的单晶硅片,腐蚀后的单晶硅片经过处理可以循环多次使用。
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