基于“寿命-应力”模型的电子产品加速寿命试验方法，该方法有八大步骤。步骤一：定义样本寿命特征；步骤二：定义失效判据；步骤三：最大应力组合的加速寿命试验；步骤四：其他组合的加速寿命试验，即进行包括除最大应力组合外另外的四组不同应力组合的试验；步骤五：失效数据处理，即借助威布尔分布拟合分析方法拟合各组试验样本的寿命总体的威布尔分布模型，并求出相应的寿命特征参数；步骤六：估计加速模型参数；步骤七：使用条件下温湿应力确定；步骤八：外推使用条件下样本失效分布。本发明能显著地缩短电子产品加速寿命试验的时间，提高试验结果的精度。它在加速寿命试验技术领域里具有较好的实用价值和广阔的应用前景。