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专利名称一种实用的电子产品寿命评估模型参数高精度萃取方法
申请日2010-12-03
申请号/专利号CN201010572200.6
专利权人北京航空航天大学
申请人北京航空航天大学
发明人/设计人孙博;冯强;曾声奎;任羿;郭健彬;马纪明
公告日2014-05-14
公告号CN102103658B
法律状态有效
专利类型发明
行业分类

摘要

一种实用的电子产品寿命评估模型参数高精度萃取方法包括如下步骤:(1)确定失效物理模型及待萃取的模型参数;(2)获取产品几何和材料参数的均值和上下限,并采用工艺能力指数表征其不确定性;(3)根据产品几何和材料参数的均值估算失效物理模型的初始模型参数;(4)根据几何和材料参数的分布类型抽样获得其随机值;(5)结合Monte-Carlo仿真方法获得产品寿命的随机值;(6)根据寿命随机值得到产品寿命的理论分布函数;(7)采用残存比率法对试验失效数据进行处理得到产品寿命的经验分布函数;(8)利用K-S检验方法对上述两个寿命分布函数的拟合度进行检验;(9)对模型参数进行寻优萃取,直到获得拟合度最优的模型参数。
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