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专利名称一种石英晶体微量天平的校准方法
申请日2009-12-17
申请号/专利号CN200910259309.1
专利权人中国航天科技集团公司第五研究院第五一○研究所
申请人中国航天科技集团公司第五研究院第五一○研究所
发明人/设计人颜则东;王先荣;王鷁;姚日剑;柏树;冯杰
公告日2011-04-20
公告号CN101750140B
法律状态有效
专利类型发明
行业分类

摘要

本发明涉及一种石英晶体微量天平的校准方法,属于航空航天技术领域。采用磁控溅射设备,在石英晶体微量天平表面沉积重金属金;给真空系统注入惰性气体;并观察、记录真空室的真空度;监测石英晶体微量天平的频率值和温度值,并保存;然后监测椭偏仪系统的S偏振光电流和P偏振光电流,并保存,最后关闭测试系统,关闭惰性气体充气系统,关闭真空系统。本发明提高了石英晶体微量天平精确测量的灵敏度,试验过程稳定可靠,复现性好,本发明中使用椭偏仪膜厚测量仪,为石英晶体微量天平校准提供了直接的膜厚测量方法,该方法测量精度高,测试过程稳定,复现性好。
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