本发明提供一种基于传输延迟的高速光耦贮存可靠性检测方法，步骤如下：一：测量所有高速光耦器件的传输延迟时间，完成器件初筛；二：将器件样品按不同贮存温度分为四组；三：开展高温贮存试验，间隔一周对样品测试，记录传输延迟时间及失效情况；四：高温贮存试验结束，根据传输延迟时间的退化轨迹对试验数据进行预处理；五：计算各样品器件在高温贮存试验中的预期寿命；六：将各样品器件在高温贮存试验中的预期寿命换算至25℃贮存的器件伪寿命；七：计算全体样品的平均伪寿命，可得总批次器件的伪寿命，用于检测该批次器件的贮存可靠性。通过以上步骤，可以利用传输延迟时间检测高速光耦的贮存可靠性；对传输延迟时间进行测试，可得到高速光耦的高温贮存退化模型与各样品、总批次伪寿命情况。