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专利名称一种提高测试精度的电磁辐射敏感测试方法
申请日2009-03-31
申请号/专利号CN200910080992.2
专利权人北京航空航天大学
申请人北京航空航天大学
发明人/设计人戴飞;苏东林;高万峰;曹成
公告日2011-01-05
公告号CN101520482B
法律状态有效
专利类型发明
行业分类

摘要

本发明公开了一种提高测试精度的电磁辐射敏感测试方法,包括用单个辐射天线从远场辐射,测量天线辐射功率、电场传感器场强值、天线与电场传感器距离;放置受试设备,布置多个电场传感器;记录此时电场传感器的值;将辐射天线靠近受试设备,是此时场强数值与上一步测量场强之差在0~6dB,记录此时电场传感器值;计算标准场强时辐射天线的功率;进行敏感测试这六个步骤,本发明给出测试标准规定的辐射场强E↓[lim]与辐射天线的辐射功率P之间所满足条件;用天线理论推算出受试设备内部耦合场达到测试需要时辐射天线功率和测试点测量场强值之间所满足的条件,给出量化的计算方法,提高电磁辐射敏感测试精度,使得测试结果准确,测试结果可以复现。
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