本发明公开了一种根据被试品自身辐射发射与背景环境电平，通过比较与插值来确定辐射安全裕度考查频点的方法。按照本发明方法选择的频点数要比被试品自身辐射发射的频点数少很多，而且频谱包络基本和被试品自身辐射发射的频谱包络一致，即对于关键频点基本上都不会出现遗漏现象，从而大大提高了测试效率和测试的准确性；另一方面，由于测试频点减少，带来测试时间的缩短，这对于测试设备和仪器，尤其像功放类使用寿命有限的设备也是一种保护。