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专利名称一种适用于电磁辐射发射自动测试中消除环境电平的方法
申请日2008-09-01
申请号/专利号CN200810119478.0
专利权人北京航空航天大学
申请人北京航空航天大学
发明人/设计人苏东林;戴飞;宋振飞;谢树果;高万峰;史德民
公告日2010-07-07
公告号CN101349721B
法律状态有效
专利类型发明
行业分类

摘要

本发明公开了一种适用于电磁辐射发射自动测试中消除环境电平的方法,该消除方法应用了场的叠加原理以及偶极子天线辐射模型,通过采集不同距离的两个测试点上的相关量运用消除环境电平模块进行远场或近场情况的分析,从而可以近似求解出被试品在第一测试点A产生的辐射发射。所述电磁辐射发射自动测试所需的仪器有接收天线、EMI接收机和PC机,接收天线连接在EMI接收机的输入端接口上,PC机连接在EMI接收机的控制接口上;所述PC机存储有由近远场判断单元、远场分析单元和近场分析单元构成的消除环境电平模块。本发明消除环境电平的方法可以解决从复杂电磁环境下测试结果提取出被试品的辐射发射,有效地排除非标准测试条件下背景环境电平对测试结果的影响。
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