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专利名称高使用温度、高稳定无铅正温度系数电阻材料及其制备方法
申请日2008-05-21
申请号/专利号CN200810037779.9
专利权人中国科学院上海硅酸盐研究所
申请人中国科学院上海硅酸盐研究所
发明人/设计人郑嘹赢;李国荣;李艳艳;冷森林;王天宝;曾江涛;殷庆瑞
公告日2012-10-03
公告号CN101284731B
法律状态有效
专利类型发明
行业分类

摘要

本发明涉及一种高使用温度、高稳定无铅正温度系数电阻材料,属于无铅半导体材料领域。该材料的组成通式为:(Na↓[0.5]Bi↓[0.5])↓[x1](Ba↓[1-x1-x2]Ln↓[x2])Ti↓[1-y]M↓[y]O↓[3]+zmol%N。其中0<x1<0.5;0<x2<0.1;0<y<0.1;0≤z≤1;Ln为Sr、Ca、Y、La中的一种或者多种;M为Nb、Ta、Sb的一种或者多种;N为MnO↓[2]、Al↓[2]O↓[3]、SiO↓[2]、TiO↓[2]的一种或者多种。本发明的高使用温度、无铅PTCR材料使用温度高于130℃,电阻突跳比(最大电阻与最小电阻比):100-100000,常温电阻率小于800Ω.cm,在最高电阻的温度与该最高温度以上50℃的温度区间内电阻变化率小于15%,瓷体总体铅含量小于50ppm。可用于制成各类温度传感器、定温发热体、限流器、延时器等,广泛应用于电子通讯、航空航天、汽车工业、家用电器等领域。
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