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专利名称一种基于二维交比不变的结构光传感器结构参数标定方法
申请日2008-05-13
申请号/专利号CN200810081873.4
专利权人北京航空航天大学
申请人北京航空航天大学
发明人/设计人张广军;孙军华;刘谦哲;魏振忠
公告日2009-12-02
公告号CN100565097C
法律状态有效
专利类型发明
行业分类

摘要

本发明公开一种基于二维交比不变的结构光传感器结构参数标定方法,该方法包括:建立摄像机坐标系、图像平面坐标系;建立靶标坐标系,获取用于标定传感器结构参数的平面靶标图像,并获取结构光投射在靶标平面上的光条的多个光条点在摄像机坐标系下的坐标;获取结构光多次投射在靶标平面上的光条的多个光条点在摄像机坐标系下的坐标,再根据获得的所有光条点坐标拟合结构光方程。本发明采用二维交比不变的方法,使得在平面靶标的每个位置上可以获取任意数量的标定点,且标定的结构光可以为任意模式。
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