本发明涉及集成电路测试方法，其步骤包括：第一步，确定测试频率，第二步确定测试波形模式，第三步，确定可测试性测度及其阈值，第四步，测试波形生成，第五步，运行测试。本发明也可以检测一些用逻辑测试方法不可检测的故障，即所谓的冗余故障。测试效率高，适应于大批量集成电路芯片生产线的需要；不需要特别高指标的昂贵的测试仪；故障覆盖率高，适应于国防、航空航天等高可靠芯片的需求。本发明提供了对于高达几个ＧＨｚ的高频数字ＣＭＯＳ集成电路，直接用其工作频率进行全速电流测试的方法，而测试周期可以灵活地根据测试仪的测试速度而定，可以慢到毫秒级。